2012-12-19 4 views
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STORE (SQLServer2008 사용)를 검색하고 제조 프로세스에서 고해상도 데이터를 시각화합니다.고해상도 데이터 시각화

이러한 데이터는 나무 조각과 관련이 있습니다. 자세히는 목재 조각의 공정 변수와 표면 결함과 관련된 고주파 (250 개의 프로세스 매개 변수가 각 목재 스트립에 대해 3500 번 측정 됨)에서 수집 된 데이터입니다.

내가 원하는 것은 다음과 같은 쿼리를 사용하는 것입니다. - 수천 개의 나무 조각이 들어있는 한 전체 생산 기간에 걸쳐 특정 나무 영역 내에서 사용 가능한 모든 HR 데이터를 검색합니다. OR BETTER - 매우 많은 양의 작업 된 목재 스트립을 포함하는 생산 기간에 목재 스트립의 특정 지역 (X, Y 좌표로 정의 됨) 내의 모든 고해상도 데이터를 검색합니다.

나는 잠재적 인 DW 솔루션을 알고 있지만 고전 DW가 이러한 종류의 문제를 다루는 데 유용할지, 또는 그것에 대한 일부 공간 가정, 즉 각 측정의 X 좌표를 이용하는 것이 유용한 지 여부를 알지 못합니다.

감사합니다,

ン 코

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. 효율적인 질의에 대한 제안을 원하면 그 점을 분명히 할 필요가 있습니다. – Pondlife

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Pondlife에게 감사드립니다. 다음과 같은 쿼리를 수행하고 싶습니다. - 코일의 특정 영역 내에서 날짜 계층 구조에 집계 된 스트립과 관련된 프로세스 매개 변수 (또는 결함)의 평균값을 얻을 수 있습니다 (주, 월, 분기 별). 각 단일 스트립과 관련된 값을 보려면 드릴 다운하십시오. – Nko

답변

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당신은 시도 할 수 있습니다 : 당신이 매개 변수의 임의의 수와 스트립에 의한 임의의 샘플을 가질 수

create table strips (strip_id int primary key, [other strip parameters]); 

create table parameters (parameter_id int primary key, parameter_description varchar(200)); 

create table strip_hr_data (strip_id int, parameter_id int, x int, y int, value whatever(), primary key(strip_id,parameter_id,x,y)); 

이 방법.

select strip_id, parameter_dscription ,x,y, value 
from strips a 
inner join strip_hr_data b on (a.strip_id = b.strip_id) 
inner join parameters c on (b.parameter_id = c.parameter_id) 
where (whatever filters you want...) 

및 중 C & P 데이터 데이터를 시각화하거나 메이크업을 피벗 테이블을 엑셀을 ODBC합니다. 각 위치에 대한 매개 변수 값을 사용하여 선택한 모든 여행 목록이있는 테이블을 얻을 수 있습니다.

모든 단계를 수행하면 모든 매개 변수에 대한 차원을 만들고 데이터를 집계하여 리포지토리가 아닌 실제 DW를 만들 수 있습니다. 지역은 불규칙한 모양 (당신이 방법에 의해,이 지리 공간 태그 이유를 잘 모르겠어요?) 특히 경우, 데이터가 간단 보인다 저장하지만하지 않을 수 쿼리

환호

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대단히 감사합니다. 그러나 나는 질문을 가지고있다. strip_hr_data 테이블은 각 공정 변수에 대해 각 스트립에 대해 약 3500 개의 측정치를 고려할 때 너무 커지게된다. 분석 단계에서 성능 문제가 있습니까? – Nko

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내가 말했듯이 이것은 저장소입니다 ... 저장하려는 데이터의 양이 많으면 천문학적 인 레코드 수가 항상 생깁니다. 무손실 환경에서 250+ 속성 (각 측정 및 키에 대해 하나씩)이있는 테이블을 구축하는 것이 가장 효과적이지만 DB의 동적 인 특성이 느슨하면 현재 측정치에 따라 달라지며 데이터를 캡처하면 ETL이 이해하기 어려워 질 수 있습니다. 당신이 할 수있는 것은 총계 데이터입니다 ... 당신은 스트립의 영역을 평균화 할 수 있습니다. 평균 4 포지션을 평균하면 데이터가 4 배 줄어 듭니다. – allaphor

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내가 개발할 솔루션의 목표는 동일한 스트립에 집계되지 않은 매개 변수와 결함의 시각화입니다.스트립 (strip)과 크기 (dimension)로 각각의 "프로세스 매개 변수"(id, posX, posY, value)와 "defects"(id, posX, posY, value)를 고려한 DW 솔루션은 어떻습니까? 건배 Nko – Nko